【公告】114學年度國小資優鑑定複選中教大實小試區提醒事項及平面圖

參加資優鑑定複選的本校學生家長您好,以下為重要事項提醒,請參閱。

  • 不開放看試場:試場位置圖將於鑑定前一天中午公告於學校網站首頁並張貼於校園入口或穿堂處。
  • 複選測驗日期:114年5月3日(六)
  • 報到入口管制:請依梯次於報到時間內由中華西街正門口進入至本校「明倫樓穿堂」報到,於報到時間內未報到者視同放棄鑑定資格。
  • 配合試場規:當天二樓以上列為試區,非試務人員一律不得上樓。報到後,學生統一於準備區靜候引導上樓,建請陪同人員由正門離校至校外休憩或至校內指定休息區範圍內等候,等候時請降低音量避免影響鑑定試務進行
  • 警衛室旁接回:測驗結束,由試場人員帶領各試場學生至正門警衛室旁交予家長由正門離開。
  • 攜帶物品及試場規定:請詳閱複選鑑定入場證的鑑定須知。